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Conception d'un microscope à force atomique métrologique
Benoît Poyet, soutiendra sa thèse intitulée "Conception d'un microscope à force atomique métrologique", jeudi 8 juillet 2010 à 14h30 à l'Université de Versailles Saint-Quentin en Yvelines.
Résumé : Les microscopes en champ proche sont très largement utilisés pour caractériser des propriétés physiques à l’échelle du nanomètre. Afin d’assurer la cohérence des mesures dimensionnelles et l’exactitude des résultats mesurés, ces microscopes ont besoin d’être étalonnés périodiquement. Ce raccordement à la définition de l’unité de longueur est assuré par le biais d’étalons de transfert dont les caractéristiques dimensionnelles peuvent être mesurées à l’aide d’un microscope à force atomique métrologique.
Les travaux réalisés au cours de cette thèse ont pour but de développer en France le premier microscope à force atomique métrologique (mAFM) capable d’étalonner ces échantillons de référence. Il s’agit d’un AFM dont les courses disponibles sont de 60 µm dans le plan horizontal et 15 µm suivant l’axe vertical. Les mesures de la position relative de la pointe AFM par rapport à l’échantillon sont réalisées à l’aide d’interféromètres différentiels dont la longueur d’onde est étalonnée afin d’assurer un raccordement direct à la définition du mètre étalon. Les incertitudes de mesure de la position de la pointe par rapport à l’échantillon sont de l’ordre du nanomètre.
Cet instrument est conçu de façon à minimiser l’impact des principales contributions qui dégradent le processus de mesure. Quatre axes de développement concourent à cet objectif :
Des résultats expérimentaux valident les choix de conception qui ont été faits et permettent de dresser un bilan d’incertitude prévisionnel pour la mesure de la position relative de la pointe AFM par rapport à l’échantillon.
Lieu de soutenance : Université de Versailles Saint-Quentin en Yvelines, salle Archimède.
Invitation et plan d'accès (pdf - 709 Ko)
Salon international process alimentaire (IPA)
Dans le cadre de ce salon, des cycles de conférences sur l'innovation et la recherche dans le domaine de l'industrie agroalimentaire sont organisées.
Le LNE y tiendra une large part, d'une part en en co-animant le mercredi 20 octobre une session intitulée "Résultats de recherches nationales et européennes sur l'emballage et son incidence sur la qualité et la sécurité des aliments" et d'autre part en présentant 2 projets de recherche dans lesquels il est impliqué :
Nanoscale 2010
Ce séminaire est organisé conjointement par EURAMET, l'organisation européenne des laboratoires de métrologie, l'Institut de Métrologie Tchèque (CIM) et la PTB. Il se tiendra du 27 au 29 octobre 2010.
Salon MEDICA 2010
Avec plus de 4000 exposants, le salon MEDICA reste le salon incontournable pour les entreprises du secteur médical.
Le LNE y sera présent pour vous présenter son offre globale : certification, mesures et essais, formation, assistance technique et recherche appliquée.
Les équipes du LNE seront présents pendant toute la durée du salon. Si vous souhaitez les rencontrer, merci de nous faire part de vos demandes de rendez-vous à l'adresse suivante : info@lne.fr
