Microscope électronique à balayage (MEB) |
Grandissement x12 à
×1 000 000
Résolution latérale : 1 nm |
- Morphologie (dimensions et forme d'un échantillon / taille, distribution de tailles et forme de particules / épaisseur d'un dépôt)
- Rugosité d'un substrat
- Microstructure (taille de grains, inclusions, pores…)
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Microscope à force atomique (AFM) |
Résolution latérale : qq nm
Résolution axiale : 0,05 nm |
- Morphologie (dimensions et forme d'un échantillon / taille, distribution de tailles et forme de particules / épaisseur d'un dépôt)
- Rugosité d'un substrat
- Microstructure (taille de grains, inclusions, pores…)
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Microscopes optiques |
Grossissement : jusqu'à x1500 |
Identification du type et du degré de corrosion |
Spectromètre EDX (analyse dispersive en énergie), couplé au MEB |
Elements détectés (à partir du bore)
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Identification / cartographie des éléments chimiques en présence |
Spectromètre IRTF (infrarouge à transformée de Fourier) |
Gamme spectrale : 400 à 4000 cm-1 |
Identification de la nature d'un matériau organique (caractérisation des fonctions chimiques) |
Analyseur de porosité / surface spécifique
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Adsorbats : N2, Kr, Ar
Surface spécifique : 0,1 m2/g
Porosité : micropores (0,7-2 nm) & mésopores (2-50 nm) |
Sur poudres
- Surface spécifique (méthode BET)
- Microporosité et mésporosité (volume poreux et distribution en taille des pores)
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Pycnomètre à hélium et méthode de la fiole coupée
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Masse volumique vraie sur poudre / matériau massif / liquide
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Pesée hydrostatique
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Masse volumique apparente non tassé
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Diffractomètre de rayons X (DRX)
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Tube Cu (λ = 1,5418 Å) |
Sur poudre / matériau massif plan
- Analyse qualitative de phases cristallines
- Détermination du taux de phase amorphe, de la taille de cristallites
- Analyse de contraintes résiduelles
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Goniomètre
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Angle de contact : 1 à 180 degrés
Tension de surface : 0,10 à 1000 N/m |
Sur matériau massif plan
- Angle de contact et tension superficielle en statique et en dynamique
- Caractère hydrophobe ou hydrophile d’un substrat
- Mouillabilité d'adhésifs, encres…
- Contrôle du collage
- Propreté d’une surface
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Préparation d'échantillon pour observation MEB, coupe micrographique : tronçonneuse, micro-tronçonneuse, enrobeuse, polisseuses, métalliseur
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