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Rencontres annuelles en nanométrologie, les inscriptions sont ouvertes

La 8e édition des Rencontres Annuelles en Nanométrologie se tiendra 17 juin 2019 et se déroulera au Ministère de l’Enseignements Supérieur, de la Recherche et de l’Innovation à Paris.

Cette année encore, elle rassemblera un plateau d’experts autour des questions liées à la mesure des nanomatériaux et comment la métrologie peut venir en support :

  • de la réglementation des nanomatériaux
  • du contrôle qualité des matériaux 2D
  • de l’évaluation du risque le long du cycle de vie
  • de la caractérisation des particules nanométriques en phase aérosol

Avec notamment au programme, Marie Zimmer de France Chimie pour parler des nouvelles exigences de REACH quant aux paramètres physico-chimiques à renseigner dans le cas des nanomatériaux, Sébastien Bau de l’INRS au sujet de la métrologie à mettre en œuvre pour l’évaluation des expositions professionnelles aux nano-objets ou encore Matthieu PAILLET du CNRS pour aborder la problématique de la caractérisation du graphène dans une démarche de contrôle qualité.

 

Cet événement est organisé par le LNE, C’Nano et le CNRS dans le cadre du Club nanoMétrologie

Programme détaillé et inscription

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