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Les fondamentaux de la métrologie dimensionnelle par microscopie à force atomique : étalonnage et maîtrise de l'incertitude de mesure - Ref. ME104

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Objectifs

Appréhender les notions de métrologie par AFM et d’étalonnage de l’instrument
Maîtriser le processus de mesurage
Évaluer les principales composantes d’incertitude
Estimer l’incertitude de mesure

Programme

Public et niveau requis

Public

  • Ingénieurs et techniciens réalisant des mesures dimensionnelles par AFM, ayant des notions sur le principe de fonctionnement de l’instrument et souhaitant estimer et justifier leurs incertitudes de mesures

Niveau requis

  • Avoir une expérience de la mesure par AFM
  • Connaître les notions de base de métrologie ou avoir suivi le module e-learning ME66 : « Introduction aux incertitudes de mesure »
  • Avoir des notions de statistiques basiques (moyenne et écart-type)

Les plus de la formation

Le LNE a conçu l’AFM métrologique, l’instrument de référence nationale pour l’étalonnage d’étalons de transfert à l’échelle nanométrique. Il développe également ses propres étalons

Les intervenants sont investis dans la recherche internationale en nanométrologie et organisent/participent à des intercomparaisons nationales ou internationales

Le LNE est co-fondateur et pilote du club nanoMétrologie et est impliqué dans des projets phares sur le sujet de la caractérisation des nanomatériaux

Moyens pédagogiques et modalités d'évaluation

Moyens pédagogiques

  • Exposés
  • Travaux pratiques en salle blanche sur AFM
  • Dossier technique remis à chaque stagiaire
  • Évaluation du stage
  • Déjeuner-rencontre pris en commun avec l'intervenant
  • Présentation d’exemples concrets
  • Visite de la plate-forme de caractérisation des nanomatériaux

Modalités d'évaluation

  • Quiz de départ et de fin de formation en auto-évaluation
  • Un questionnaire d’évaluation de la satisfaction du client est remis en fin de stage

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