Journée technique - Métrologie - Ref. JT2001

Quelles évolutions pour l'industrie du futur ?

INSCRIPTIONS CLOSES

Faire le tour des sujets de l’industrie 4.0

  • Une matinée orientée sur :
    • les références, avec l’impact de la révision du SI, et
    • les données, avec des sujets comme l’intelligence artificielle et le deep-learning.
  • Une après-midi portant sur :
    • les moyens à disposition pour la métrologie de demain,
    • des sujets comme la fabrication additive, les instruments connectés et les nouveaux équipements pour l’industrie.

Possibilité de s'inscrire sur l’une ou l’autre des demi-journées selon vos centres d’intérêts : contactez-nous 

Détail de la journée

Science de la mesure et de ses applications, la métrologie est présente dans tous les secteurs d’activité. Elle est au cœur des enjeux industriels et devient cruciale dans l’industrie du futur.

Afin de répondre aux exigences du marché et d’être plus performantes, les entreprises ont besoin d’effectuer des mesures toujours plus précises et traçables, dans des délais courts en s’appuyant sur une métrologie efficace et efficiente.

Cette journée technique présente des aspects de l’évolution de la métrologie permettant de s’adapter aux besoins de demain. Le système SI et les références métrologiques, le traitement des données et l’intelligence artificielle y seront évoqués.  Des moyens et de nouveaux procédés de mesure seront abordés afin de vous proposer des éléments liés à l’évolution de la métrologie pour l’industrie du futur.

Table ronde et présentations dresseront des perspectives pour l’utilisation des données (Big data, machine learning) ou accompagner la maitrise des mesures dynamiques. Du temps sera consacré aux échanges avec des experts et des industriels, acteurs de cette transition vers une nouvelle industrie.

Programme

9:00 - 17:15

9h00 | Accueil des participants

9h15 | Ouverture et présentation de la journée

Jean-Remy FILTZ, Directeur de la Direction de la Métrologie Scientifique et Industrielle, LNE

Mohamed MEGHARFI, Ingénieur métrologie, LNE

LES RÉFÉRENCES

9h30 | La révision du SI et les nouvelles références pour une industrie en pleine mutation

Maguelonne CHAMBON, Directrice de la Direction de la Recherche Scientifique et Technologique, LNE

10h00 | Quel impact du nouveau SI dans le futur ? Illustration par des exemples

Maguelonne CHAMBON

 

10h30 | Questions / Réponses

10h45 | Pause - Echanges autour d'un café

LES DONNÉES

11h15 | Intelligence artificielle : mesures de performance et sécurité

Agnès DELABORDE, Ingénieure de recherche en intelligence artificielle, LNE

11h45 | Deep-learning : exemple de son utilisation en nanométrologie

Loïc COQUELIN, Ingénieur de recherche en mathématiques appliquées, LNE

12h15 | Table ronde : Les données de mesure dans l'industrie du futur

Agnès DELABORDE

Loïc COQUELIN

Rémi REGNIER, Ingénieur docteur en évaluation des systèmes de traitement de l'information, LNE

 

12h45 | Déjeuner

LES MOYENS

14h15 | Quelle métrologie pour la fabrication additive ?

Charles CAYRON, Docteur chercheur en métrologie pour la fabrication additive, LNE

14h45 | Métrologie 4.0 : Les défis de la mesure tridimensionnelle dans l'industrie du futur

Cyril AUJARD, Directeur ZEISS Industry Quality Solutions, ZEISS France

15h15 |Capteurs intelligents et IOT

Intervenant à confirmer

 

15h45 | Questions / Réponses

16h00 | Pause - Échanges  

16h30 |Les mesures dynamiques pour l'industrie du futur

Christophe SARRAF, Maître de Conférences, ENSAM

Adrien CANU, Ingénieur accélérométrie, LNE

17h00 | Conclusion et synthèse de la journée

Mohamed MEGHARFI

 

17h15 | Fin de journée

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