La plateforme de NAnométrologie ELectrique (NAEL) est dédiée à l’étude des propriétés électriques des nanomatériaux et nanocircuits.
Moyens associés
- SMM : microscope à sonde locale électrique micro-onde
- C-AFM : microscope à force atomique à pointe conductrice
- Station de mesure sous 4 pointes micro-positionnées
Applications
- Mesure des propriétés électriques d’un matériau :
- Permittivité
- Concentration de dopants
- Topographie dimensionnelle et électrique d’une surface à l’échelle nanométrique
- Mesure de propriétés de transport d’un matériau
- Mesure de résistance électrique et de courant de grande précision
Découvrez nos moyens, notre expertise et notre offre complète dans le domaine des nanomatériaux
Nous contacter
Vous avez un projet ou une problématique ?
Vous souhaitez être accompagné ?
Faites-nous part de votre besoin
Découvrez nos autres plateformes
