Journée technique IA, digitalisation & métrologie

Le Collège Français de Métrologie et le LNE vous proposent, dans une collaboration inédite, une Journée Technique pour comprendre les liens entre IA, digitalisation et métrologie.

Visuel-JT_metrologie-IA — Journée technique le 06 novembre 2025 en partenariat avec le CFM

Machine learning, deep learning, intelligence artificielle, digitalisation des données et des outils, autant de concepts qui s’installent dans notre quotidien tout en paraissant éloignés des activités propres à la métrologie. Et pourtant !
Cette journée, nouvelle et prospective, s’adresse à tous les métrologues qui s’intéressent à l’impact de l’intelligence artificielle et de la digitalisation sur nos métiers ainsi qu’à l’apport que la métrologie peut avoir pour aider au déploiement de ces nouveaux outils.

Programme et inscription

Journée technique organisée en partenariat avec le CFM