Caractérisation métrologique des nanomatériaux

La plateforme de CARactérisation MÉtrologique des Nanomatériaux (CARMEN) du LNE rassemble, sur 150 m2 de salle blanche en milieu contrôlé (température, hygrométrie, vibration...), l’ensemble des instruments nécessaires pour dresser la fiche d’identité d’une nanoparticule et développer les différentes méthodes de référence primaire associées.

Moyens associés

  • BET : mesure de la surface spécifique et de la porosité
  • MEB : mesure de la dimension latérale des nanoparticules
  • DLS : mesure d’échantillons sous forme de suspension
  • AFM : mesure des hauteurs de nanoparticules et de réseaux
  • AFM métrologique : instrument de référence, étalonnage des réseaux 3D
  • RAMAN : identification chimique et caractérisation par spectroscopie

Prestations réalisables

  • Etalonnage d’instruments notamment microscopes (AFM et MEB)
  • Evaluation des performances d’instruments de mesure et de systèmes de prélèvements de particules
  • Caractérisation complète de nanomatériaux dans différents milieux
  • Accompagnement pour répondre aux exigences réglementaires

Découvrez nos moyens, notre expertise et notre offre complète dans le domaine des nanomatériaux : institut LNE-Nanotech