Lauréats du Prix LNE de la recherche

Lauréats 2019

Le Prix LNE de la recherche 2019 est, cette année, remis à Marie-Christine Lépy du Laboratoire National Henri Becquerel (LNE-LNHB) et Gaël Obein du Laboratoire commun de métrologie (LNE-LCM/Cnam).

 

Marie-Christine LÉPY

Marie-Christine LépyMarie-Christine LÉPY est directrice de recherche au Commissariat à l’énergie atomique et aux énergies alternatives. En 1982, elle soutient sa thèse à l’Université de Caen et devient docteure en physique nucléaire. A la suite de quoi elle entre, en décembre 1984, au Laboratoire National Henri Becquerel dans le groupe spectrométrie gamma. Depuis 2005, Marie-Christine LÉPY coordonne le groupe de travail sur la spectrométrie gamma de l’International Committtee for Radionuclide Metrology (ICRM) et est membre du comité consultatif de la conférence européenne sur la spectrométrie X (EXRS) depuis 2006. En 2009, elle est nommée «Expert senior» au CEA, puis soutient la même année son Habilitation à diriger des Recherches à l’Université Pierre et Marie Curie. Directrice de recherche depuis janvier 2014, Marie-Christine LÉPY est actuellement, responsable de la spectrométrie gamma et rayons X au sein du LNE-LNHB. Ses compétences en métrologie des radionucléides couvrent aujourd’hui la mesure par spectrométrie gamma et X, le développement de la spectrométrie X et de l’utilisation de sources monochromatiques accordables et l’utilisation du rayonnement Synchrotron sur ligne du Synchrotron SOLEIL. Elle coopère régulièrement avec les laboratoires nationaux de métrologie dans le domaine de la radioactivité et a publié plus de 80 articles dans des revues internationales à comité de lecture.

 

Gaël OBEIN

Gaël ObeinGaël OBEIN est maître de conférences au Conservatoire National des Arts et Métiers. En 2003, il soutient sa thèse intitulée «Caractérisation optique et visuelle du brillant», réalisée au Muséum National d’Histoire Naturelle et devient docteur en Systèmes physiques et métrologie. Après un postdoctorat au NIST dans la division «Optical Thermometry and Spectral Methods», il entre au Cnam en 2006 où il met en place et développe la métrologie de l’apparence au sein du Laboratoire commun de métrologie LNE-LCM/Cnam. Depuis 2012, il anime la métrologie européenne sur cette thématique par le biais des 3 JRP qu’il coordonne (xDReflect, BiRD, BxDiff). Gaël OBEIN est en charge de la réalisation et du maintien des références nationales de photométrie et spectrophotométrie du LCM depuis 2008. Depuis 2017, il est également président de CIE-France, le comité miroir national de la Commission Internationale de l’Eclairage (CIE) et est responsable amont du département Photonique au LNE-Cnam depuis 2018. Il dirige aujourd’hui deux comités techniques à la CIE, l’un sur la mesure bidirectionnelle de la reflectance, l’autre sur la mesure du brillant. En novembre 2018, Gaël OBEIN a soutenu son Habilitation à Diriger des Recherches intitulée «Métrologie de l’apparence» au Cnam.

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